本标准为GB/T 43226-2023，标准的中文名称为宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法，标准的英文名称为Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit，本标准在2023-09-07发布，在2024-01-01开始实施。
本标准文件共有8页。 GB_T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法.pdf(652.15 KB)
