GB/T 1555-2023 半导体单晶晶向测定方法

a123456789 · 发表于 2025-4-11 06:14

《半导体单晶晶向测定方法》（GB/T 1555-2023），该标准的归口单位为国家标准委，英文名为Test methods for determining the orientation of a semiconductive single crystal。
《半导体单晶晶向测定方法》（GB/T 1555-2023）是在2023-08-06发布，在2024-03-01开始实施。
本标准文件共有9页。

GB_T 1555-2023 半导体单晶晶向测定方法.pdf (778.64 KB)

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GB/T 1555-2023 半导体单晶晶向测定方法

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