本标准为SJ/T 11820-2022，标准的中文名称为半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法，标准的英文名称为Technology requirements and test methods for discrete semiconductor DC parameters test instruments，本标准在2022-10-20发布，在2023-01-01开始实施。
本标准规定了半导体分立器件直流参数测试设备（以下简称“分立器件测试设备”）的术语和定义、技术要求、测量方法。本标准适用于直流电压输出和直流电压测量范围不超过0.01V~5000V，直流电流输出和直流电流测量范围不超过1nA～10A，脉冲电流输出和脉冲电流测量范围不超过10A～1200A的分立器件测试设备。
本标准文件共有10页。 SJ_T 11820-2022 半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法.pdf(3.87 MB)
