GB/T 42968.2-2024 集成电路电磁抗扰度测量第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法

xiaoss · 发表于 2025-10-13 09:17

本标准为GB/T 42968.2-2024，标准的中文名称为集成电路电磁抗扰度测量第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法，标准的英文名称为Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 2: Measurement of radiated immunity—TEM cell and wideband TEM cell method，本标准在2024-10-26发布，在2024-10-26开始实施。
该标准采用了标准IDT,IEC 62132-2-2010。
本文件描述了集成电路（IC）对射频（RF）辐射电磁骚扰的抗扰度测量方法。本文件适用的频率范围为150 kHz~1 GHz或为TEM 小室和宽带TEM 小室的特性决定的频率范围。
本标准文件共有24页。

GB_T 42968.2-2024 集成电路电磁抗扰度测量第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法.pdf (1.88 MB)

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