《非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法》（GB/T 4326-2025），该标准的归口单位为国家标准委，英文名为Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient。
《非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法》（GB/T 4326-2025）是在2025-10-31发布，在2026-05-01开始实施。
本标准文件共有15页。 GB_T 4326-2025 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法.pdf(498.96 KB)
