GB/T 44937.1-2025 集成电路电磁发射测量第1部分: 通用条件和定义

1752224118 · 发表于 2026-6-24 00:38

本标准为GB/T 44937.1-2025，标准的中文名称为集成电路电磁发射测量第1部分: 通用条件和定义，标准的英文名称为Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 1: General conditions and definitions，本标准在2025-12-31发布，在2026-07-01开始实施。
该标准采用了标准IDT,IEC 61967-1:2018。
本文件提供了集成电路的传导和辐射电磁发射测量的通用信息和定义，同时也给出了试验条件、试验设备、试验布置、试验程序和试验报告内容的描述。附录A中给出了试验方法的对照表，以帮助选择适当的测量方法。本文件的目的是描述通用条件，建立一个统一的测试环境以定量测量来自集成电路（IC）的射频（RF）骚扰。本文件描述了影响试验结果的关键参数。若与本文件的描述有所偏离，需在试验报告中明确注明。测量结果能用于产品比较或其他用途。
本标准文件共有25页。

GB_T 44937.1-2025 集成电路电磁发射测量第1部分_ 通用条件和定义.pdf (2.45 MB)

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