本标准为GB/T 47239.8-2026，标准的中文名称为半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第8部分：柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性测试方法，标准的英文名称为Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 8: Test method for stretchability, flexibility and stability of flexible resistive memory，本标准在2026-02-27发布，在2026-09-01开始实施。
该标准采用了标准IDT,IEC 62951-8:2023。
本文件描述了用于评价柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性的术语和测试方法，包括试验流程和所用设备。本文件还包括环境温度和相对湿度等测试条件的通用要求。本文件中描述的测试方法侧重于评价稳定性，而不是可靠性。
本标准文件共有15页。
GB_T 47239.8-2026 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第8部分：柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性测试方法.pdf
(2.11 MB)
|
|
