半导体器件 微机电器件 MEMS总规范（GB/T 32817-2016），该标准的归口单位为全国微机电技术标准化技术委员会，英文名为Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Generic specification for MEMS。
半导体器件 微机电器件 MEMS总规范（GB/T 32817-2016）是在2016-08-29发布，在2017-03-01开始实施。
该标准采用了标准IEC 62047-4-2008,MOD。
本标准描述了用半导体制造的微机电系统(MEMS)的总规范,规定了用于IECQ-CECC体系质量评定的一般规程,给出了电、光、机械和环境特性的描述和测试的总则。本标准适用于各类MEMS器件[如传感器、射频MEMS,但不包括光MEMS、生物MEMS、微全分析系统(Micro-TAS)和微能源MEMS]。
本标准文件共有20页。
GB_T 32817-2016 半导体器件 微机电器件 MEMS总规范.pdf
(1.3 MB)
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