太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法（SJ/T 11631-2016），该标准的归口单位为全国半导体设备和材料标准化技术委员会，英文名为Test methods for surface defects of silicon wafers for solar cell。
太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法（SJ/T 11631-2016）是在2016-04-05发布，在2016-09-01开始实施。
本标准规定了太阳能电池用硅片（以下简称硅片）外观缺陷的测试方法。本标准适用于太阳能电池用硅片的沾污、崩边和缺口等外观缺陷的测试。对于其他类型硅片或外观缺陷在使用本标准规定的测试方法时，需经有关各方协商。
本标准文件共有8页。 SJ_T 11631-2016 太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法.pdf(4.14 MB)
