太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法（SJ/T 11632-2016），该标准的归口单位为全国半导体设备和材料标准化技术委员会，英文名为Test method for microcrack defects of silicon wafers for solar cell。
太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法（SJ/T 11632-2016）是在2016-04-05发布，在2016-09-01开始实施。
本标准规定了太阳能电池用硅片（以下简称硅片）微裂纹缺陷的测试方法。本标准适用于太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试，也可适用于硅片裂纹、杂质和孔洞缺陷的测试。在采用本标准提供的测试方法测试其他类型的样品之前，需由供需双方协商。
本标准文件共有10页。 SJ_T 11632-2016 太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法.pdf(4.13 MB)
