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SJ/T 11577-2016 SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》应用指南

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xanx 发表于 2021-4-9 14:12 | 显示全部楼层 |阅读模式
本标准为SJ/T 11577-2016,标准的中文名称为SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》应用指南,标准的英文名称为Guide on SJ/T 11394-2009 《Measure methods of semiconductor light emitting diodes》,本标准在2016-01-15发布,在2016-06-01开始实施。
本标准规定了SJ/T 11394-2009《半导体发光二极管测试方法》在实际测量过程中的技术细节。
本标准文件共有10页。
SJ_T 11577-2016 SJ_T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》应用指南.pdf (5.68 MB)
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lygxty 发表于 2021-12-24 11:03 | 显示全部楼层
支持下啊
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1192178000 发表于 2021-12-28 16:59 | 显示全部楼层
好资源,正好需要
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