用电感耦合等离子体发射光谱法测定氢氟酸中金属元素的含量(SJ/T 11554-2015),该标准的归口单位为全国半导体设备与材料标准化技术委员会,英文名为Determination of the metals'concentration of hydrofluoric acid by ICP-OES。
用电感耦合等离子体发射光谱法测定氢氟酸中金属元素的含量(SJ/T 11554-2015)是在2015-10-10发布,在2016-04-01开始实施。
本标准规定了采用电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)测定氢氟酸中金属元素的试验方法。本标准适用于电子工业用氢氟酸中痕量金属元素钠(Na)、镁(Mg)、铝(Al)、钾(K)、钙(Ca)、钛(Ti)、钒(V)、铬(Cr)、锰((Mn)、铁(Fe)、钴(Co)、镍(Ni)、铜(Cu)、锌(Zn)、砷(As)、锶(Sr)、银(Ag)、镉(Cd)、锡(Sn)、锑(Sb)、钡(Ba)、铅(Pb)的测定。本方法标准适用于微量测定,推荐测定元素的浓度范围为0.01mg/L~1mg/L。应用本标准时,电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)应有较好的工作环境,推荐不低于GB 50472中规定的100000级的洁净室。本标准不涉及使用安全性问题,本标准的使用人应负责建立适当的安全健康条款及使用范围的限制。
本标准文件共有12页。 SJ_T 11554-2015 用电感耦合等离子体发射光谱法测定氢氟酸中金属元素的含量.pdf(2.21 MB)