SJ/T 2658.10-2015 半导体红外发射二极管测量方法第10部分：调制带宽

916308112 · 发表于 2021-4-12 05:29

半导体红外发射二极管测量方法第10部分：调制带宽（SJ/T 2658.10-2015），该标准的归口单位为工业和信息化部电子工业标准化研究院，英文名为Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode
. Part 10: Modulation bandwidth。
半导体红外发射二极管测量方法第10部分：调制带宽（SJ/T 2658.10-2015）是在2015-10-10发布，在2016-04-01开始实施。
本部分规定了半导体红外发射二极管调制带宽的测量原理图、测量步骤以及规定条件。本部分适用于半导体红外发射二极管。
本标准文件共有6页。

SJ_T 2658.10-2015 半导体红外发射二极管测量方法第10部分：调制带宽.pdf (2.19 MB)

qweqwe · 发表于 2021-12-23 10:14

下载很快

1748533416 · 发表于 2022-3-10 09:48

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