SJ/T 2658.11-2015 半导体红外发射二极管测量方法第11部分：响应时间

919353546 · 发表于 2021-4-9 13:48

半导体红外发射二极管测量方法第11部分：响应时间（SJ/T 2658.11-2015），该标准的归口单位为工业和信息化部电子工业标准化研究院，英文名为Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode
. Part 11: Response time。
半导体红外发射二极管测量方法第11部分：响应时间（SJ/T 2658.11-2015）是在2015-10-10发布，在2016-04-01开始实施。
本部分规定了半导体红外发射二极管响应时间的测量原理图、测量步骤以及规定条件。本部分适用于半导体红外发射二极管。
本标准文件共有7页。

SJ_T 2658.11-2015 半导体红外发射二极管测量方法第11部分：响应时间.pdf (3.1 MB)

windline · 发表于 2022-4-25 15:03

看看怎样

a2415956952 · 发表于 2022-5-16 15:36

强强强强

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SJ/T 2658.11-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第11部分：响应时间

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