电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构测定方法（GB/T 5594.8-2015），该标准的归口单位为中国电子技术标准化研究院，英文名为Test methods for properties of structure ceramic
used in electronic components and device. Part 8:Test method for microstructure。
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构测定方法（GB/T 5594.8-2015）是在2015-05-15发布，在2016-01-01开始实施。
GB/T 5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶资显微结构的测定方法。本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶资显微结构的测定。本部分涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。
本标准文件共有7页。 GB_T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分_显微结构测定方法.pdf(545.65 KB)
