JB/T 8268-2015 静电复印光导体表面缺陷测量方法

chinamiltv · 发表于 2021-4-12 14:35

本标准为JB/T 8268-2015，标准的中文名称为静电复印光导体表面缺陷测量方法，标准的英文名称为Test method of surface defect for photoconductor of
electrostatic copying process，本标准在2015-04-30发布，在2015-10-01开始实施。
本标准规定了静电复印光导体表面缺陷的测量条件、测量方法及测量报告。本标准适用于静电复印(打印、传真、多功能)设备用的光导体的外观质量及背景印迹的测量。
本标准文件共有6页。

JB_T 8268-2015 静电复印光导体表面缺陷测量方法.pdf (270.98 KB)

a1679908947 · 发表于 2021-12-23 23:40

谢谢分享！！！！

2324773780 · 发表于 2022-8-18 15:44

看看先

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JB/T 8268-2015 静电复印光导体表面缺陷测量方法

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