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SJ/T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法

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zhangyingjie123 发表于 2021-4-11 22:51 | 显示全部楼层 |阅读模式
本标准为SJ/T 2214-2015,标准的中文名称为半导体光电二极管和光电晶体管测试方法,标准的英文名称为Measuring methods for semiconductor photodiode and phototransistor,本标准在2015-04-30发布,在2015-10-01开始实施。
本标准规定了半导体光电二极管和光电晶体管(以下简称"器件")光电参数的测试方法。本标准适用于半导体光电二极管和光电晶体管光电参数的测试。本标准不适用PIN、雪崩光电二极管的测试。
本标准文件共有25页。
SJ_T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法.pdf (3.92 MB)
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lhzd666 发表于 2022-2-27 20:07 | 显示全部楼层
好东西!!!
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1502200122 发表于 2023-11-9 14:11 | 显示全部楼层
很给力~
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