太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法（GB/T 30869-2014），该标准的归口单位为全国半导体设备和材料标准化技术委员会;全国半导体设备及材料分技术委员会，英文名为Test method for thickness and total thickness variation of silicon wafers for solar cell。
太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法（GB/T 30869-2014）是在2014-07-24发布，在2015-02-01开始实施。
本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)厚度及总厚度变化的分立式和扫描式测试方法。本标准适用于符合GB/T 26071、GB/T 29055规定尺寸的硅片的厚度及总厚度变化的测量,分立式测量方法适用于接触式及非接触式测量,扫描式测量方法只适用于非接触式测量。在测量仪器准许的情况下,本标准也可用于其他规格硅片的厚度及总厚度变化的测量。
本标准文件共有8页。
GB_T 30869-2014 太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法.pdf
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