本标准为GB/T 14620-2013，标准的中文名称为薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片，标准的英文名称为Alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits，本标准在2013-11-12发布，在2014-04-15开始实施。
本标准规定了薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本标准适用于薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片(以下简称"基片")的生产和采购,采用薄膜工艺的片式元件用氧化铝陶瓷基片也可参照使用。
本标准文件共有14页。
GB_T 14620-2013 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片.pdf
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