钨制品中杂质元素分析 电感耦合等离子体原子发射光谱法（SN/T 2698-2010），该标准的归口单位为国家认证认可监督管理委员会，英文名为Elemental analysis of impurities in tungsten products. Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method。
钨制品中杂质元素分析 电感耦合等离子体原子发射光谱法（SN/T 2698-2010）是在2010-11-01发布，在2011-05-01开始实施。
本标准规定了钨制品中Ni,Fe,Co,Mn等元素的电感耦合等离子体原子发射光谱测定方法。本标准适用于钨制品中4种元素的测定,测定范围见表1。
本标准文件共有9页。
SN_T 2698-2010 钨制品中杂质元素分析 电感耦合等离子体原子发射光谱法.pdf
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