表面化学分析 二次离子质谱-由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子（GB/T 25186-2010），该标准的归口单位为全国微束分析标准化技术委员会，英文名为Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials。
表面化学分析 二次离子质谱-由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子（GB/T 25186-2010）是在2010-09-26发布，在2011-08-01开始实施。
该标准采用了标准ISO 18114-2003,IDT。
本标准指定了一种由离子注入参考物质确定二次离子质谱分析中相对灵敏度因子的方法。本标准适用于基体化学成分单一的样品,其中注入物质的峰值原子浓度不超过1%。
本标准文件共有7页。
GB_T 25186-2010 表面化学分析 二次离子质谱-由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子.pdf
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