本标准为GB/T 41805-2022，标准的中文名称为光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法，标准的英文名称为Methodology for the quantitative inspection of the defect on optics surface—Microscopic scattering dark-field imaging，本标准在2022-10-14发布，在2023-05-01开始实施。
本标准文件共有15页。 GB_T 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法.pdf(4.36 MB)
