GB/T 4937.12-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动:本标准为GB/T 4937.12-2018，标准的中文名称为半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动，标准的英文名称为Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 12:Vibration,variable frequency，本标准在2018-09-17发布，在2019-01-01开始实施。
该标准采用了标准IEC 60749-12-2002,IDT。
GB/T 4937的本部分的目的是测定在规定频率范围内，振动对器件的影响。本试验是破坏性试验，通常用于有空腔的器件。本试验与GB/T 2423.10-2008基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。
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