本标准为GB/T 4937.12-2018,标准的中文名称为半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动,标准的英文名称为Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 12:Vibration,variable frequency,本标准在2018-09-17发布,在2019-01-01开始实施。
该标准采用了标准IEC 60749-12-2002,IDT。
GB/T 4937的本部分的目的是测定在规定频率范围内,振动对器件的影响。本试验是破坏性试验,通常用于有空腔的器件。本试验与GB/T 2423.10-2008基本一致,但鉴于半导体器件的特殊要求,采用本部分的条款。
本标准文件共有6页。
GB_T 4937.12-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动.pdf
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