GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法:本标准为GB/T 36477-2018，标准的中文名称为半导体集成电路 快闪存储器测试方法，标准的英文名称为Semiconductor integrated circuit. Measuring methods for flash memory，本标准在2018-06-07发布，在2019-01-01开始实施。
本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。
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GB_T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法.pdf