GB/T 36477-2018 半导体集成电路快闪存储器测试方法

yzh586 · 发表于 2021-4-8 20:31

本标准为GB/T 36477-2018，标准的中文名称为半导体集成电路快闪存储器测试方法，标准的英文名称为Semiconductor integrated circuit. Measuring methods for flash memory，本标准在2018-06-07发布，在2019-01-01开始实施。
本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。
本标准文件共有19页。

GB_T 36477-2018 半导体集成电路快闪存储器测试方法.pdf (1.07 MB)

cjm520 · 发表于 2022-5-11 03:38

看看。。。

十年 · 发表于 2022-9-17 07:42

感谢分享~

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GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法

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