GB/T 26068-2018 硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法:本标准为GB/T 26068-2018，标准的中文名称为硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法，标准的英文名称为Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers and silicon ingots—Non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance method，本标准在2018-12-28发布，在2019-11-01开始实施。
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