GB/T 26068-2018 硅片和硅锭载流子复合寿命的测试非接触微波反射光电导衰减法

1950417758.. · 发表于 2018-12-28 23:49

本标准为GB/T 26068-2018，标准的中文名称为硅片和硅锭载流子复合寿命的测试非接触微波反射光电导衰减法，标准的英文名称为Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers and silicon ingots—Non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance method，本标准在2018-12-28发布，在2019-11-01开始实施。
本标准文件共有29页。

GB_T 26068-2018 硅片和硅锭载流子复合寿命的测试非接触微波反射光电导衰减法.pdf (3.97 MB)

zs977012018 · 发表于 2022-3-23 03:49

看看怎样

45362834 · 发表于 2022-3-31 21:15

谢谢分享！！！！

		自动登录	找回密码
密码			QQ一键登录

GB/T 26068-2018 硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法

相关帖子

GB/T 26068-2018 硅片和硅锭载流子复合寿命的测试非接触微波反射光电导衰减法