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GB_T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理.pdf

 

GB/T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理:
本标准为GB/T 6798-1996,标准的中文名称为半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理,标准的英文名称为Semiconductor integrated circuits. General principles of measuring methods of voltage comparators,本标准在1996-07-09发布,在1997-01-01开始实施。
本标准规定了半导体集成电路电压比较器(以下简称器件)电特性测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路电压比较器电特性的测试。
本标准文件共有29页。

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