本标准为GB/T 6798-1996，标准的中文名称为半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理，标准的英文名称为Semiconductor integrated circuits. General principles of measuring methods of voltage comparators，本标准在1996-07-09发布，在1997-01-01开始实施。
本标准规定了半导体集成电路电压比较器(以下简称器件)电特性测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路电压比较器电特性的测试。
本标准文件共有29页。 GB_T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理.pdf(1.08 MB)
