GB/T 14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理:半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理（GB/T 14115-1993），该标准的归口单位为无，英文名为General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits。
半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理（GB/T 14115-1993）是在1993-01-21发布，在1993-08-01开始实施。
本标准规定了半导体集成电路采样/保持放大器(以下简称器件)电参数测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路采样/保持放大器的电参数测试。
本标准文件共有14页。
GB_T 14115-1993 半导体集成电路采样_保持放大器测试方法的基本原理.pdf