GB/T 14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理

帅气的姑娘 · 发表于 2021-4-10 04:37

半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理（GB/T 14115-1993），该标准的归口单位为无，英文名为General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits。
半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理（GB/T 14115-1993）是在1993-01-21发布，在1993-08-01开始实施。
本标准规定了半导体集成电路采样/保持放大器(以下简称器件)电参数测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路采样/保持放大器的电参数测试。
本标准文件共有14页。

GB_T 14115-1993 半导体集成电路采样_保持放大器测试方法的基本原理.pdf (298.72 KB)

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GB/T 14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理

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