GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理:半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理(GB/T 14032-1992),该标准的归口单位为无,英文名为General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits。
半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理(GB/T 14032-1992)是在1992-12-18发布,在1993-08-01开始实施。
本标准规定了半导体集成电路数字锁相环(以下简称器件或数字锁相环)电参数测试方法的基本原理。
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