GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理

X-foreverβ · 发表于 2021-4-11 21:26

半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理（GB/T 14032-1992），该标准的归口单位为无，英文名为General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits。
半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理（GB/T 14032-1992）是在1992-12-18发布，在1993-08-01开始实施。
本标准规定了半导体集成电路数字锁相环(以下简称器件或数字锁相环)电参数测试方法的基本原理。
本标准文件共有10页。

GB_T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理.pdf (211.96 KB)

newboy · 发表于 2024-3-13 15:37

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GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理

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