GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理:本标准为GB/T 14031-1992，标准的中文名称为半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理，标准的英文名称为General principles of measuring methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits，本标准在1992-12-18发布，在1993-08-01开始实施。
本标准规定了半导体集成电路模拟锁相环(以下简称器件或模拟锁相环)电参数测试方法的基本原理。
本标准文件共有17页。
GB_T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理.pdf