标准规范网»首页 › 国家标准 › 【GB】国家标准 › GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基 ...

GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理

853917198 发表于 2021-4-12 06:00 | 显示全部楼层 |阅读模式

本标准为GB/T 14031-1992，标准的中文名称为半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理，标准的英文名称为General principles of measuring methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits，本标准在1992-12-18发布，在1993-08-01开始实施。
本标准规定了半导体集成电路模拟锁相环(以下简称器件或模拟锁相环)电参数测试方法的基本原理。
本标准文件共有17页。

GB_T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理.pdf (378.92 KB)

基本, 导体, 模拟, 电路

		自动登录	找回密码
密码			QQ一键登录

GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理

相关帖子