GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理:本标准为GB/T 14030-1992，标准的中文名称为半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理，标准的英文名称为General principles of measuring methods of timer circuits for semiconductor integrated circuits，本标准在1992-12-18发布，在1993-08-01开始实施。
本标准规定了半导体集成电路时基电路(以下简称器件或时基电路)电参数测试方法的基本原理。
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GB_T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理.pdf