GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

7890P[ · 发表于 2021-4-9 18:02

本标准为GB/T 14030-1992，标准的中文名称为半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理，标准的英文名称为General principles of measuring methods of timer circuits for semiconductor integrated circuits，本标准在1992-12-18发布，在1993-08-01开始实施。
本标准规定了半导体集成电路时基电路(以下简称器件或时基电路)电参数测试方法的基本原理。
本标准文件共有13页。

GB_T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理.pdf (274.2 KB)

张子健替父日母 · 发表于 2022-5-22 08:55

这个不错

大家好 · 发表于 2022-6-19 02:43

好东西！！！

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GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

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