GB/T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法:电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法（GB/T 5594.1-1985），该标准的归口单位为无，英文名为Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components. Test method for gas-tightness。
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法（GB/T 5594.1-1985）是在1985-11-27发布，在1986-12-01开始实施。
本标准适用于电子元器件结构陶瓷室温下气密性的测试。
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GB_T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法.pdf