电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法(GB/T 5594.1-1985),该标准的归口单位为无,英文名为Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components. Test method for gas-tightness。
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法(GB/T 5594.1-1985)是在1985-11-27发布,在1986-12-01开始实施。
本标准适用于电子元器件结构陶瓷室温下气密性的测试。
本标准文件共有3页。 GB_T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法.pdf(118.5 KB)