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DB13_T 5696-2023 基于高温反偏试验的GaN HEMT 射频功率器件缺陷快速筛选方法.pdf

DB13/T 5696-2023 基于高温反偏试验的GaN HEMT 射频功率器件缺陷快速筛选方法:

本标准为DB13/T 5696-2023，标准的中文名称为基于高温反偏试验的GaN HEMT 射频功率器件缺陷快速筛选方法，适用地区为河北省，所属行业为无，本标准在2023-05-06发布，在2023-06-06开始实施。
本标准文件共有13页。

GMT+8, 2024-5-16 01:21

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