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DB13/T 5696-2023 基于高温反偏试验的GaN HEMT 射频功率器件缺陷快速筛选方法

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disho 发表于 2023-6-7 17:45 | 显示全部楼层 |阅读模式
本标准为DB13/T 5696-2023,标准的中文名称为基于高温反偏试验的GaN HEMT 射频功率器件缺陷快速筛选方法,适用地区为河北省,所属行业为无,本标准在2023-05-06发布,在2023-06-06开始实施。
本标准文件共有13页。
DB13_T 5696-2023 基于高温反偏试验的GaN HEMT 射频功率器件缺陷快速筛选方法.pdf (861.27 KB)
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timliyong 发表于 2023-6-19 04:52 | 显示全部楼层
看看先
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qizhongjie 发表于 2023-10-18 13:24 | 显示全部楼层
强强强强
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