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GB/T 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法: GB_T 41765-2022.png

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GB/T 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法:

本标准为GB/T 41765-2022，标准的中文名称为碳化硅单晶位错密度的测试方法，标准的英文名称为Test method for dislocation density of monocrystalline silicon carbide，本标准在2022-10-14发布，在2023-05-01开始实施。
本标准文件共有12页。

标准封面截图：
GB/T 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法

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