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GB_T 44937.8-2025 集成电路电磁发射测量第8部分：辐射发射测量 IC带状线法.pdf

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GB/T 44937.8-2025 集成电路电磁发射测量第8部分：辐射发射测量 IC带状线法:

本标准为GB/T 44937.8-2025，标准的中文名称为集成电路电磁发射测量第8部分：辐射发射测量 IC带状线法，标准的英文名称为Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 8: Measurement of radiated emissions—IC stripeline method，本标准在2025-12-31发布，在2026-07-01开始实施。
该标准采用了标准IDT,IEC 61967-8:2023。
本文件描述了使用带状线测量集成电路（IC）电磁辐射发射的方法。被评估IC安装在IC带状线结构的有效导体和地平面之间的EMC试验板（PCB）上。
本标准文件共有17页。

标准封面截图：
GB/T 44937.8-2025 集成电路电磁发射测量第8部分：辐射发射测量 IC带状线法

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