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GB/T 44937.8-2025 集成电路 电磁发射测量 第8部分:辐射发射测量 IC带状线法

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hflyer 发表于 2026-6-22 18:07 | 显示全部楼层 |阅读模式
本标准为GB/T 44937.8-2025,标准的中文名称为集成电路 电磁发射测量 第8部分:辐射发射测量 IC带状线法,标准的英文名称为Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 8: Measurement of radiated emissions—IC stripeline method,本标准在2025-12-31发布,在2026-07-01开始实施。
该标准采用了标准IDT,IEC 61967-8:2023。
本文件描述了使用带状线测量集成电路(IC)电磁辐射发射的方法。被评估IC安装在IC带状线结构的有效导体和地平面之间的EMC试验板(PCB)上。
本标准文件共有17页。
GB_T 44937.8-2025 集成电路 电磁发射测量 第8部分:辐射发射测量 IC带状线法.pdf (2.18 MB)
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rhrgrs 发表于 2026-6-22 19:04 | 显示全部楼层
谢谢分享......
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