工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法(GB/T 14849.5-2014),该标准的归口单位为全国有色金属标准化技术委员,英文名为Methods for chemical analysis of sillicon metal. Part 5etermination of impuroty contents. X-ray fluorescence method。
工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法(GB/T 14849.5-2014)是在2014-12-05发布,在2015-05-01开始实施。
GB/T 14849的本部分规定了工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定方法。本部分适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定。
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