GB/T 14849.5-2014 工业硅化学分析方法第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法

Tevm · 发表于 2021-4-12 11:16

工业硅化学分析方法第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法（GB/T 14849.5-2014），该标准的归口单位为全国有色金属标准化技术委员，英文名为Methods for chemical analysis of sillicon metal. Part 5:Determination of impuroty contents. X-ray fluorescence method。
工业硅化学分析方法第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法（GB/T 14849.5-2014）是在2014-12-05发布，在2015-05-01开始实施。
GB/T 14849的本部分规定了工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定方法。本部分适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定。
本标准文件共有10页。

GB_T 14849.5-2014 工业硅化学分析方法第5部分_杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法.pdf (547.55 KB)

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