GB/T 17473.1-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法固体含量测定

kkkkjj · 发表于 2021-4-9 13:59

本标准为GB/T 17473.1-2008，标准的中文名称为微电子技术用贵金属浆料测试方法固体含量测定，标准的英文名称为Test methods of precious metals pastes used for microelectronics. Determination of solids content，本标准在2008-03-31发布，在2008-09-01开始实施。
被标准替代。
本部分规定了微电子技术用贵金属浆料中固体含量的测试方法。
本部分适用于各种烧结型和固化型微电子技术用贵金属浆料固体含量的测定。
本标准文件共有5页。

GB_T 17473.1-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法固体含量测定.pdf (142.91 KB)

ray · 发表于 2022-5-11 02:53

支持一下

VANTA · 发表于 2023-4-27 12:11

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GB/T 17473.1-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定

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