GB/T 36474-2018 半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法

gkkangel · 发表于 2021-4-11 23:11

半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法（GB/T 36474-2018），该标准的归口单位为全国半导体器件标准化技术委员会，英文名为Semiconductor integrated circuit. Measuring methods for double data rate 3 synchronous dynamic random access memory (DDR3 SDRAM)。
半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法（GB/T 36474-2018）是在2018-06-07发布，在2019-01-01开始实施。
本标准规定了半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器(DDR3 SDRAM)功能验证和电参数测试的方法。本标准适用于半导体集成电路领域中第三代双倍数据速率同步动态随机存储器(DDR3 SDRAM)功能验证和电参数测试。
本标准文件共有16页。

GB_T 36474-2018 半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法.pdf (936.78 KB)

a282249040 · 发表于 2022-12-22 06:17

支持下啊

百年无梦 · 发表于 2023-7-10 18:54

看看。。。

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GB/T 36474-2018 半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法

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