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SJ 2215.4-1982 半导体光耦合器(二极管)反向电流的测试方法

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CKT123456 发表于 2021-12-6 13:41 | 显示全部楼层 |阅读模式
半导体光耦合器(二极管)反向电流的测试方法(SJ 2215.4-1982),该标准的归口单位为无,半导体光耦合器(二极管)反向电流的测试方法(SJ 2215.4-1982)是在1982-11-30发布,在1983-07-01开始实施。
它在2015-10-01作废。被标准SJ/T 2215-2015替代。
本标准适用于光耦合器的二极管反向电流I(R)的测试。
本标准文件共有1页。
SJ 2215.4-1982 半导体光耦合器(二极管)反向电流的测试方法.pdf (138.97 KB)
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q1228186 发表于 2023-10-10 20:24 | 显示全部楼层
看一下
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aady 发表于 2023-11-28 06:07 | 显示全部楼层
很给力~
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